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- 體積小、成本低且易于操作的薄膜厚度測量
- 可通過選擇光譜儀和光源來選擇測量膜厚度范圍
- 簡單的狀態設置和測量操作。 任何人都可以輕松測量
- 配備實時監控和模擬功能
-
測量光斑直徑φ3mm（標準）支持
從薄膜到3nm~35μm厚膜的廣泛測量
- **反射率測量
- 薄膜厚度分析（10層）
- 光學常數分析（n：折射率，k：衰減計數）
-
功能膜、塑料：
透明導電膜（ITO、銀納米線）、阻滯膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、膠粘劑、膠粘劑、保護膜、硬涂層、防指紋劑等。 -
半導體 化合物半導體
、硅、氧化膜、氮化物膜、抗蝕劑、碳化硅、砷化鎵、氮化鎵、鎵、藍寶石等 -
表面處理
DLC涂層、防銹劑、防霧劑等 -
光學材料
濾光片、增透膜等 -
FPD
液晶顯示器（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機膜，密封膠）等。 -
其他
硬盤、磁帶、建筑材料等 -
| 測量波長范圍 | 300~800nm | |
|
測量膜厚范圍 （SiO2轉換） |
3納米~35微米 | |
| 光斑直徑 | φ1.2毫米 | |
| 樣本量 | φ200×5（高）毫米 | |
| 測量時間 | 0.1~10s內 | |
| 權力 | 交流100V±10% 300VA | |
| 尺寸、重量 | 280（寬）×570（深）×350（高）毫米、24公斤 | |
| 其他 | 參考板、配方準備服務 | |
代理品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等）、SANKO三高、NPM日脈、東機產業（粘度計）、CCS（視檢查光源）、Aitec（視檢查光源）、REVOX萊寶克斯（視檢查光源）、EYE巖崎（UV汞燈）、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克（風速計、流量計等）、坂口電熱（加熱器、制冷片）、NEWKON新光（針孔機）、NS精密科學（柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵） 、SIBATA柴田科學、SAKURAI櫻井
優勢品牌：AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業、KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場、EXCEL艾庫斯、HEIDON新東科學、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林時計、MACOME碼控美、TML東京測器等等各日本品牌工業產品
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理、直營各日本品牌工業產品，聯系人：張小姐
聯系電話（微信）：15902189399
