• 從稀釋到濃縮的溶液（~40%）^*1可在廣泛的濃度范圍內測量顆粒大小和 Zeta 電位
• 多角度測量可實現高分離粒徑分布的測量
• 可在高鹽濃度下測量平板樣品的Zeta電位
• 使用靜態光散射法測量顆粒濃度
• 動態光散射法可實現微流變測量
• 通過多點測量凝膠樣品，可以評估凝膠的網狀結構和異質性
• 標準流單元可連續測量顆粒大小和 Zeta 電位
• 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量
• 溫度梯度功能允許蛋白質的變性和相變溫度分析
• 通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結果，用于測量單元中的電滲透流
• 可安裝熒光切割過濾器（可選）

它非常適合在界面化學、無機材料、生命科學、半導體、聚合物、生物、制藥和醫學領域進行基礎和應用研究，不僅處理細顆粒，還處理薄膜和平板樣品的表面科學。

• 新型功能材料
  燃料電池相關（碳納米管、富勒烯、纖維素納米纖維、功能膜、催化劑、納米金屬）
  生物納米相關（納米膠囊、樹突、DDS、生物納米顆粒）、納米氣泡、
  生物相容性材料等
   
• 陶瓷和著色材料工業
  陶瓷（二氧化硅、氧化鋁、氧化鈦等）
  無機溶膠的表面改性、分散和聚合控制
  顏料（炭黑和有機顏料）的分散和聚合控制
  漿料樣品
  彩色濾光片
  懸浮礦物的收集材料吸附研究
   
• 半導體領域
  硅晶片表面異物附著的機理 闡明
  研磨劑、添加劑與晶圓表面相互作用的研究
  CMP漿料
   
• 聚合物和化學工業
  乳液（涂料和粘合劑）的分散和聚合控制、乳膠表面改性（醫藥和工業）
  聚合物電解質（聚苯乙烯磺酸鹽、聚羧酸等）的功能研究、功能性納米顆粒
  造紙和紙漿造紙工藝控制以及紙漿添加劑研究
   
• 制藥和食品工業
  乳液（食品、香料、醫療和化妝品）的分散和聚集控制、蛋白質功能
  

• 脂質體和囊泡的分散和聚合控制、表面活性劑（云蘇）的功能

• 測量原理	澤塔電位		電泳光散射法（激光多普勒法）
  	顆粒大小		動態光散射法（光子相關法）
  	分子量		靜態光散射方法
  光學	澤塔電位		異質光學
  	顆粒大小		均入式光學系統
  	分子量		均入式光學系統
  光源	窄帶半導體激光器
  探測器	高靈敏度 APD
  單元單元	標準流單元（Zeta 電位和顆粒大小）
  	顆粒大小單元（顆粒大小）
  	顆粒大小多角度單元（顆粒大小和分子量）
  溫度	0 至 90°C（帶梯度功能）
  電源	100V ± 10% 250VA
  尺寸 （WDH）	330（W)×565（D)×245（H)
  重量	22 kg

   

  測量范圍

  澤塔電位	-200 ～ +200 mV
  電流動性	-2×10 -5 ～ 2×10 -5 cm2/V.s
  顆粒大小	0.6 nm ～ 10μm
  分子量	340 ～ 2×107

  對應范圍

  測量溫度范圍	0 ～ 90℃
  測量濃度范圍	Zeta 電位：0.001 至 40%， 顆粒尺寸：0.00001 （0.1 ppm） 至 40% *1