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OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器
是能夠使LED的光學特性評價與生產線的控制信號同步，在線內高速進行的裝置。
LE-5400提供NG判定和等級分類等質量管理所必需的光學特性信息。
OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE series
特長
允許與生產線上的控制信號同步。
通過光纖實現自由測量系統。
支持*短2ms至2毫秒的光譜測量(LE-5400)。
測量、運算、評價的1個周期與以往產品相比半數以下的高速型也是系列產品。
※詳細情況請與我們聯系。15902189399
測量項目。
三刺激值(kX，kY，kZ)*(JIS Z 8724)。
色度坐標(u，v)(CIE 1960UCS)。
色度坐標(x，y)(JIS Z 8724)。
色度坐標(u‘，v’)(CIE 1976UCS)。
主波長(Dominant)和刺激純度(JIS Z 8701)。
相關色溫和Duv(JIS Z 8725)。
演色評分(Ra，R1-R15)(JIS Z 8726)。
峰值(λmax)的波長、高度、半寬。
**峰的波長和高度。
積分值(Summation)。
重心波長。
指定波長的高度。
比峰值波長短波長側、長波長側的積分值。
*亮度(kY)的值，在測量的LED和檢測部的光學系統中不同，
僅當對齊(距離、位置、方向)具有重現性時才有效
| 型式 | LE series | |||
| タイプ | A | B | C | D |
| 演算波長範囲 | 380 ～ 960 nm | 300 ～ 800 nm | 330 ～ 1100 nm | 350 ～ 930 nm |
| 波長精度 *1 | ±0.3 nm＊2 | ±0.3 nm＊2 | ±0.5 nm＊2 | ±0.3 nm＊2 |
| 方式 | グレーティングによる分光測光方式 | |||
| 分光器 | F = 3, f = 135mm | |||
| グレーティング | ブレーズドホログラフィック型 | |||
| 検出器 | 電子冷卻型CCDイメージセンサ | |||
| ファイバー *3 |
長さ約2 m, 口金直徑約12 mm LEDとの距離：通常2 mm～8 mm程度（LEDの指向特性により異なる） |
|||
| 消費電力 | *大100 VA | |||
| 本體?重量 | 280（W）x 160（H）x 296（D）mm， 約10 kg | |||
*1 波長校正用光源の既知の輝線における確認値です。
*2 JIS Z 8724準拠
*3 形狀、長さは変更可能です。
裝置構成
