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MCPD series OTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD series
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FE-300 OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器 是一種通過簡單操作實現(xiàn)高精度光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。 采用將必要的機器收納在機身部位的一體化體型外殼，實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)的獲取 通過獲取低價位的優(yōu)良反射率，也可以進行光學(xué)常數(shù)的分析。OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器FE-300OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器FE-300
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FE-3000 OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計 利用顯微的微小領(lǐng)域的優(yōu)良反射率的取得，通過高精度的光干涉法的膜厚解析可能的裝置。 多種多樣的樣品的膜厚·光，除了半導(dǎo)體領(lǐng)域的圖案樣品、透鏡和鉆孔之類的形狀樣品之外，還有表面粗糙度和膜厚不均的樣品。能夠進行定數(shù)分析。OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計FE-3000OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計FE-3000
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OPTM series OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM series
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HS-1000 OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射輝度計 從低亮度到高亮度可以高速·高精度的測量的分光輻射亮度計。 使用電子冷卻型的線性陣列傳感器，通過大冢電子獨自的分光光學(xué)設(shè)計和信號處理電路的寬亮度范圍和波長域，實現(xiàn)了低噪聲的高精度的測量。OTSUKA大冢- 高靈敏度分光放射輝度計HS-1000OTSUKA大冢- 高靈敏度分光放射輝度計HS-1000OTSUKA大冢- 高靈敏度分光放射輝度
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MCPD-9800/6800 OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800
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ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 高分子相結(jié)構(gòu)分析系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相結(jié)構(gòu)分析系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相結(jié)構(gòu)分析系統(tǒng)ELSZ-2000S
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Agilent 7100 OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統(tǒng) 陽離子和陰離子等不同的成分可以用一臺裝置進行分析。 用微量樣品可以進行短時間、高分辨率的分析。 OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統(tǒng)Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統(tǒng)Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統(tǒng)Agilent 7100
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DRM-3000 OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計 可以根據(jù)靜光散射法的重量平均分子量決定的dn / dc測量。 OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計DRM-3000OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計DRM-3000OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計DRM-3000
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SLS-6500HL OTSUKA大冢- 靜態(tài)光散射光度計 可以測量使用靜光散射法的**分子量、慣性半徑、**膽量系數(shù)。 OTSUKA大冢- 靜態(tài)光散射光度計SLS-6500HLOTSUKA大冢- 靜態(tài)光散射光度計SLS-6500HLOTSUKA大冢- 靜態(tài)光散射光度計SLS-6500HL
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FPAR-1000AS OTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑 FPAR和自動取景器的組合中，關(guān)于50檢體的試料，可以進行粒子直徑的自動測量。 樣品量為1ml，可以使用廉價的電筒進行測量。 OTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑FPAR-100
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FPAR-1000 OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統(tǒng) 從稀薄系到濃厚系，在廣泛的濃度區(qū)域中的粒子直徑測量 *適合分析膠體分散液和拉拉力的分散狀態(tài)。 OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統(tǒng)FPAR-1000OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統(tǒng)FPAR-1000OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統(tǒng)FPAR-1000
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FDLS-3000 OTSUKA大冢- 光纖光學(xué)動態(tài)光散射光度計 根據(jù)固體激光和高靈敏度檢測器（冷卻型光電子倍增管），可以測量0.5nm～5000 nm的粒子直徑和粒子直徑分布（粒徑·粒徑分布）。OTSUKA大冢- 光纖光學(xué)動態(tài)光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學(xué)動態(tài)光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學(xué)動態(tài)光散射光度計FDLS-3000
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DLS-6500series OTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計 可測量使用動態(tài)光散射法的粒子直徑、粒子直徑分布（粒徑、粒徑分布）。 OTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計DLS-6500series
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ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統(tǒng)ELSZ-2000S
